La Microscopia ottica a scansione a campo prossimo (SNOM) per la Scienza dei Materiali
Istituto di Struttura della Materia, Antonio Cricenti, David Becerril, Marco Luce, Marco Ortensi
La microscopia ottica a scansione a campo prossimo (SNOM) consente di osservare strutture ottiche localizzate sulla superficie o all’interno di qualsiasi materiale. Le immagini sono ottenute illuminando il campione ad una certa lunghezza d'onda e misurando la trasmissione o la riflessione locale della luce insieme ad una immagine topografica. Il confronto tra le immagini SNOM e topografiche consente di localizzare le strutture ottiche in aree precise del campione con risoluzione nanometrica.
Laboratori che verranno visitati: Laboratorio di Nanospettroscopia, edificio U, stanza IC04
Numero massimo di persone per gruppo, 10
Durata 45 minuti
Turni: 4 la mattina, 4 il pomeriggio